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1 X射线衍射图谱

概述

X射线是1895年德国物理学家伦琴(W.C.R⍥ntgen)所发现,1912年德国物理学家劳厄(M.von Laue)又发现了X射线在晶体中的衍射现象,从而开创了结晶材料的测试分析工作,至今已知的有机和无机晶体结构基本上已被测定出来。随着科学技术的发展,仪器日益精良,衍射数据也越来越丰富,越来越精确可靠,已为物相鉴定打下了坚实基础。对材料研究来说,化学组成的测定方法较多,但能准确快速测定材料的物相组成,X射线衍射分析不失为一种有效的方法,现已得到材料科学工作者广泛的应用,下面将简述其原理和方法:

·物相分析的基本原理

X射线射入结晶物质(物相)时,就会发生衍射现象。其特征值有两 ......     (共2593字)    [阅读本文]>>

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