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1.1.4.1 表面统计参量
光学材料表面微粗糙的存在，是材料本身及加工过程带来的必然结果。设z(x)是真实表面x处偏离平均平面的高度函数，由于它的高低起伏被认为是一个静态随机过程，为了更好地了解表面的特征，人们通常用数学上常用的统计参数来表征微粗糙表面的横向和纵向分布特征，如粗糙度的均方根值，表面的高度分布函数，表面的自协方差函数及表面的功率谱密度等[6]。
1) 均方根粗糙度(Root Mean Square roughness， RMS)
光学表面的粗糙度通常用表面高度起伏的均方根(RMS)值δ来表示。理想情况下，它的严格数学定义为
δ2L＝∫L-Lz2(x)dx=〈∫L-Lz2(x)dx〉
(1-1-67)
式中，z(x)为x点处的表面高度值，〈·〉表 ...... （共13514字） [阅读本文]>>
光学薄膜及应用光学薄膜设计的理论基础是麦克斯韦方程组，从理论观点来说，研究薄膜系统的光学特性就是研究平面电磁波通过分层介质的传播，因此处理薄膜问题的最有效方法是解麦克斯韦方程组[1]：·D=4πρ(1-1-1)×E
光学薄膜及应用1) 共振吸收如果把原子分子体系看做是谐振子体系，这个体系在电场E=E0e-iω t的作用下，满足强迫振动方程：m0+m0γ+Kx=-eE0e-iω t(1-1-21)式中，m0为电子质量，e为电子的
光学薄膜及应用从光的电磁理论出发，光吸收主要是由介电常数中的虚部引起的。这时，介质的折射率也变为复数。即＝n-ik(1-1-37)式中，为复折射率;n为折射率;k为消光系数。由于消光系数的存在，光在通过电介质时，将
光学薄膜及应用实际的光学薄膜，由于在沉积过程中工艺条件的变化，在薄膜生长方向上折射率会发生相应的变化，这种现象叫做薄膜的不均匀性，而折射率具有确定的不均匀性的薄膜叫做非均匀膜或渐变折射率薄膜。1.1.5.1 不均匀
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光学薄膜及应用当光束倾斜入射时，对于不同的偏振分量，光学薄膜的界面行为会产生不同的变化，这种现象就是光学薄膜的偏振。利用薄膜界面的偏振现象发展起来的薄膜元件称为薄膜偏振元件。1.1.7.1 光学薄膜的偏振效应依据M
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